Другие журналы

Беляков Илья Владимирович

Подготовка диэлектрических образцов для исследования методом растровой электронной микроскопии
Молодежный научно-технический вестник # 08, август 2012
УДК: 542.8
В данной работе рассматривается проблема свечения диэлектрика, при изучении методом растровой электронной микроскопии (РЭМ). Целью работы является выявление оптимального способа подготовки образца из поликарбоната для исследования методом растровой электронной микроскопии (РЭМ).
 
ПОИСК
 
elibrary crossref neicon rusycon
 
ЮБИЛЕИ
ФОТОРЕПОРТАЖИ
 
СОБЫТИЯ
 
НОВОСТНАЯ ЛЕНТА



Авторы
Пресс-релизы
Библиотека
Конференции
Выставки
О проекте
Rambler's Top100
Телефон: +7 (499) 263-69-71
  RSS
© 2003-2024 «Инженерный вестник» Тел.: +7 (499) 263-69-71