Для определения управляемых параметров для конструкторско-технологической оптимизации СВЧ смесителей радиосигналов на резонансно-туннельных диодах по критерию их надежности , проведены исследования закономерностей формирования их постепенных отказов. Установлено, что возможность повышения надежности таких смесителей радиосигналов лежит в оптимизации характеристик резонансно-туннельной структуры нанодиода.