Другие журналы
|
электронный научно-технический журналИНЖЕНЕРНЫЙ ВЕСТНИКИздатель: Общероссийская общественная организация "Академия инженерных наук им. А.М. Прохорова".
77-48211/596023 Устройство для измерений фрактальной размерности поверхностного слоя
Инженерный вестник # 06, июнь 2013
Файл статьи:
Бавыкин_P.pdf
(272.25Кб)
УДК. 681.2 Россия, Москва, Университет машиностроения (МАМИ)
Представлены результаты анализа зависимостей фрактальной размерности (параметра D) и свойств поверхности, а также результаты анализа известных подходов для оценки фрактальной размерности поверхностного слоя. Предложена установка для определения параметра D поверхности материала. Установка основана на совместном применении модернизированного микроинтерферометра МИИ-4 и компьютерной программы «Nova». Модернизация заключается в установке на прибор ПЗС-матрицы. Представлены результаты исследования точности заложенного в программе «Nova» алгоритма фрактальной обработки данных. Приведены направления дальнейшей модернизации установки.
Список литературы 1. Потапов А.А. Исследование микрорельефа обработанных поверхностей с помощью методов фрактальных сигнатур / А.А. Потапов, В.В. Булавкин, В.А. Герман, О.Ф. Вячеславова // ЖТФ. 2005. Т. 75, № 5. С. 28 – 45. 2. Бавыкин О.Б. Взаимосвязь свойств поверхности и ее фрактальной размерности / О.Б. Бавыкин, О.Ф. Вячеславова // Известия МГТУ «МАМИ». 2013. Т. 1. № 1 (15). С. 14-18. 3. Потапов А.А. Фракталы в радиофизике и радиолокации: топология выборки. Изд. 2-е, перераб. и доп.- М.: Университетская книга, 2005 г.- 848 с. 4. Бавыкин О.Б. Комплексная оценка качества поверхности и эксплуатационных свойств изделий из наноматериалов / О.Б. Бавыкин, О.Ф. Вячеславова // Автомобильная промышленность. 2012. № 3. С. 36-37. 5. Потапов А.А. Применения фрактального анализа для оценки качества инженерной поверхности и динамических свойств ее структуры / А.А. Потапов, О.Ф. Вячеславова, О.Б. Бавыкин // Механические свойства современных конструкционных материалов: тез. междунар. науч. конф. М., 2012. С. 197-199. 6. Бавыкин О.Б. Применение в образовании специализированных компьютерных программ «NOVA» и «MYTESTX» / О.Б. Бавыкин // IDO Science. 2011. № 1. С. 10-11. 7. Потапов А.А. Исследование возможностей применения компьютерной программы «Nova» для фрактальной обработки информации / А.А. Потапов, О.Ф. Вячеславова, О.Б. Бавыкин // Волновая электроника и ее применение в информационных и телекоммуникационных системах: материалы междунар. молодежной конф. Воронеж, 2012. С. 119-123. 8. Бавыкин О.Б. Формирование наименьшего значения шероховатости поверхности деталей машин на основе выбора оптимальных режимов размерной электрохимической обработки / О.Б. Бавыкин, О.Ф. Вячеславова // Известия МГТУ «МАМИ». 2010. № 2 (10). С. 102-107. Публикации с ключевыми словами: качество поверхности, фрактальный анализ, микроинтерферометр МИИ-4 Публикации со словами: качество поверхности, фрактальный анализ, микроинтерферометр МИИ-4 Смотри также: Тематические рубрики: Поделиться:
|
|
|||||||||||||||||||
|