Щербина Антон Алексеевич

Проведен анализ существующих методов контроля качества оптических поверхностей и предложено схемотехнического решения по созданию динамического интерферометра, предназначенного для контроля качества поверхностей оптических деталей нанометрового уровня. Предложенный метод позволяет построить функциональную схему на базе электрооптического модулятора.